חקר מיקרו-מבנה

מיקרוסקופיה אופטית
SEM (מיקרוסקופ סורק אלקטרונים) מצויד ב- EDS (ספקטרוסקופיה מפזרת אנרגיה) לאפיון מורפולוגי וכימי מלא של החומר הפלסטי כולל היכולת לזהות אטומים קלים.
XRD (דיפרקציית קרני X) לחקר הגבישיות של פילרים ופולימרים.

צור קשר מהיר שם שם חברה מס' טלפון דוא''ל ארץ: שאלות או הערות אנא הקלידו את הספרות:

04-8469550/46